起動類型
比較項目 | 磁控軟起動(ab軟啟動器報f135故障) | 液體電阻 | 熱變電阻 | 晶閘管軟起動(ab軟啟動器故障代碼f15) 器 |
基本原理 | 改變磁飽和電抗器的阻抗 | 改變極板距離從而改變液阻大小 | 利用液態(tài)電阻的負(fù)溫度特性 | 改變晶閘管的脈沖觸發(fā)角 |
高壓執(zhí)行器件 | 磁飽和電抗器 | 電阻液 | 負(fù)溫度特性液體 | 晶閘管 |
受環(huán)境影響的程度 | 不受影響 | 影響小 | 影響很大 | 不受影響 |
氣動調(diào)節(jié)可控性 | 閉環(huán)控制，包頭ab軟啟動器報f135故障可調(diào)恒流起動 | 可實現(xiàn) | 不可控 | 閉環(huán)控制，包頭ab軟啟動器故障代碼f15可調(diào)恒流起動，包頭電機軟啟動器電路圖電壓斜坡起動，包頭軟啟動器的結(jié)構(gòu)點動等 |
控制單元 | 普通繼電器組成的線路 | 普通繼電器組成的線路 | 普通繼電器組成的線路 | 采用32位ARM核微控制器 |
保護功能 | 單一 | 開環(huán)控制 | 開環(huán)控制 | 齊全 |
連續(xù)起動性 | 連續(xù)起動，包頭軟啟動器內(nèi)部電路圖前后參數(shù)性能不變 | 連續(xù)起動參數(shù)特性變化小 | 不能連續(xù)起動 | 連續(xù)起動，包頭自制軟啟動前后性能不變 |
起動力矩 | 不可調(diào)，包頭深圳軟起動(電機軟啟動器電路圖)器特性軟 | 可調(diào)，包頭智能軟啟動器海報特性軟 | 不可調(diào)，包頭西門子軟啟動器特性軟 | 可調(diào)整,額定電流100(百分比)-500(百分比) |
過載能力 | 無 | 100(百分比)-400(百分比) | 無 | 100(百分比)-400(百分比) |
起動器壓降 | 大 | 大 | 大 | 帶旁路時小于1V無旁路時3.5V |
與計算機通訊 | 無 | 無 | 容易 | |
現(xiàn)場調(diào)試 | 數(shù)字鍵設(shè)定參數(shù)，包頭西普軟啟動器快捷易學(xué) | 專業(yè)人員調(diào)試配液 | 專業(yè)人員調(diào)試配液時間長 | 簡單易學(xué) |
體積 | 較大 | 較大（3面柜） | 最小 | |
重量 | 最重（噸級） | 很重（大量液體，包頭軟啟動器廠家噸級） | 最輕 | |
可否軟停止 | 容易 | 較易 | 不能 | 可設(shè)置不同的軟停曲線 |
安全性 | 電動力大，包頭自耦減壓起動控制柜沖擊電流大，包頭6kv開關(guān)柜(450開關(guān)柜 )運行在過載情況下 | 一般 | 一般（易開鍋） | 高 |
是否需維護 | 免維護 | 定期加水 | 定期加水，包頭6kv高壓開關(guān)柜(GCK抽出式開關(guān)柜 )加液 | 免維護 |
環(huán)保特性 | 噪聲大，包頭6kv開關(guān)柜(GCK低壓抽出式開關(guān)柜 )結(jié)構(gòu)原理有嘯叫聲，包頭6kv開關(guān)柜(GCS抽出式開關(guān)柜 )參數(shù)電磁波較嚴(yán)重，包頭6kv開關(guān)柜(GGD開關(guān)柜 )型號對設(shè)備和人有影響 | 綠色環(huán)保 | 使用化學(xué)藥劑 | 綠色環(huán)保 |
能量消耗 | 較大（直流控制回路電流大） | 最大（耗能產(chǎn)品） | 最大（耗能產(chǎn)品） | 節(jié)能產(chǎn)品 |
效率 | 一般 | 低 | 低 | 99(百分比)以上 |
是否有諧波染 | 較小 | 無 | 無 | 很?。珊雎圆挥嫞?/span> |
響應(yīng)靈敏程度 | 快（毫秒級） | 慢（秒級） | 慢（秒級） | 快（微秒級） |
材料成本 | 1.1 | 1（以此為基數(shù)） | 0.8-1 | 1-2 |
材料耗費 | 耗費人量硅鋼片，包頭6kv高壓開關(guān)柜(MNS低壓開關(guān)柜 )系統(tǒng)圖銅材 | 耗材較大 | 耗材較大 | 節(jié)省材料，包頭6kv開關(guān)柜(變電站(開關(guān)站與開閉所的區(qū)別)開關(guān)柜 )檢修總結(jié)技術(shù)先導(dǎo) |
市場價格 | 1.5-2.5 | 1.2-1.5 | 1.1-1.3 | 1.5-2.5 |
噪聲大小 | 較大（80分貝以上） | 較小 | 較小 | 無 |
使用壽命 | 普通電器壽命（變壓器壽命的20-30(百分比)） | 3-5年（水箱易老化）絕緣下降，包頭6kv高壓開關(guān)柜(插拔式開關(guān)柜 )型號極板易腐蝕，包頭6kv高壓柜耐壓試驗壽命短 | 電力電子元件壽命 | |
技術(shù)含量 | 一般 | 低 | 低 | 高 |